میکروسکوپ نیروی اتمی

میکروسکوپ نیروی اتمی* یا میکروسکوپ نیرویی روبشی (به انگلیسی: SFM:Scanning Force microscope) در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنیگ و گربر* اختراع شد. مانند تمام میکروسکوپ های پراب پویشی* دیگر، میکروسکوپ نیروی اتمی از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت می کند، استفاده می کند.
مزایا
سرعت بالا
سادگی تهیهٔ نمونه
اطلاعات دقیق ارتفاع
قابلیت کار در هوا، خلا و مایعات (بر خلاف میکروسکوپ های الکترونی)
قابلیت مطالعهٔ سیستم های زیستی زنده
در مورد میکروسکوپ نیروی اتمی، نوکی* بر روی کانتی لیور (اهرم) وجود دارد که در اثر نیروی بین نمونه و نوک خم می شود. عکس شماره ۱ طرز کار یک میکروسکوپ نیروی اتمی را نشان می دهد.
با خم شدن کانتی لیور، انعکاس نور لیزر بر روی آشکارسازنوری* جابجا می شود. بدین ترتیب می توان جابجایی نوک کانتی لیور را اندازه گیری کرد. از آنجایی که کانتی لیور در جابجایی های کوچک از قانون هوک پیروی می کند، از روی جابجایی کانتی لیور می توان نیروی برهم کنش بین نوک و سطح نمونه را بدست آورد. و از روی نیروی بین اتم های سطح نمونه و پراب، می توان فاصلهٔ بین نوک و سطح نمونه، یا همان ارتفاع آن قسمت از نمونه را بدست آورد.
حرکت پراب بر روی نمونه توسط دستگاه موقعیت یاب بسیار دقیقی انجام می شود که از سرامیک های پیزوالکتریک ساخته می شود. این پویشگر توانایی حرکت در مقیاس زیر آنگستروم را دارد.

میکروسْکوپ نیروی اتمی (atomic force microscope)
میکروسْکوپ نیروی اتمی
نوعی میکروسکوپ برای تولید تصویری بزرگ، با کمک کاونده ای از جنس الماس. این میکروسکوپ در اواخر دهۀ ۱۹۸۰ ساخته شد. کاوندۀ الماس، با نوک فوق العاده ظریفی که ممکن است از یک اتم تشکیل شده باشد، روی سطح نمونۀ موردنظر کشیده می شود تا نمای پربندی سطح را «حس» کند. نوک کاونده، در واقع مانند سوزن گرامافون عمل می کند و سطح نمونه را می خواند. حرکت بسیار ظریفِ بالا و پایین رفتن کاونده، به کمک رایانه تبدیل به تصویری از سطح می شود و روی پرده به نمایش درمی آید. از آن جا که برخلاف میکروسکوپ تونلی روبشی، در این دستگاه نیازی نیست نمونۀ مورد بررسی به لحاظ الکتریکی رسانا باشد، این میکروسکوپ برای نمونه های زیست شناختی هم کاربرد دارد.